ميکروسکوپ نيروي اتمي (AFM)

ميکروسکوپ نيروي اتمي (آنالیز AFM)براي بررسي خواص و ساختار سطحي مواد در ابعاد نانومتري به كار مي‌رود. انعطاف‌پذيري، سيگنالهاي بالقوة متعدد، و امكان عملكرد دستگاه در مدهاي مختلف محققين را در بررسي سطوح گوناگون، تحت شرايط محيطي متفاوت توانمند ساخته است.

بر خلاف اكثر روشهاي بررسي خواص سطوح، با میکروسکوپ نیروی اتمی محدوديت اساسي بر روي نوع سطح و محيط آن وجود ندارد. با اين نانوسکوپ امكان بررسي سطوح رسانا يا عايق، نرم يا سخت، منسجم يا پودري، بيولوژيك و آلي يا غيرآلي وجود دارد.

خواص قابل اندازه‌گيري با نانوسکوپ شامل :

1- مورفولوژي هندسي
2- توزيع چسبندگي
3- اصطكاك
4- ناخالصي سطحي
5- جنس نقاط مختلف سطح
6- كشساني
7- خواص مغناطيسي
8- بزرگي پيوندهاي شيميايي
9- توزيع بارهاي الكتريكي سطحی
10- قطبيت الكتريكي نقاط مختلف

از قابلیت های میکروسکوپ نیروی اتمی براي بررسي ويژگي‌هايي همچون : خوردگي، تميزي، يكنواختي، زبري، چسبندگي، اصطكاك و اندازه استفاده مي شود.

پارامترهای قابل اندازه گیری با آنالیز AFM:

1- بررسی صافی سطوح
2- بررسی خواص مغناطیسی مواد
3- کنترل کیفی سطوح پوشش داده شده