X Ray Fluorescence 

فلورسانس اشعه ایکس (XRF) تابش اشعه ایکس مشخصه “ثانویه” از ماده ای است که در اثر بمباران پرتوهای ایکس یا اشعه گاما با انرژی زیاد تحریک شده است.

آنالیز XRF به طور گسترده ای برای تجزیه و تحلیل مقدماتی و تجزیه و تحلیل شیمیایی و اندازه گیری مقدار عناصر به ویژه در بررسی فلزات ، شیشه ، سرامیک و مصالح ساختمانی و تحقیقات در زمینه ژئوشیمی ، پزشکی ، باستان شناسی و اشیا هنری مانند نقاشی ها مورد استفاده قرار می گیرد.

آنالیز XRF  یک روش تجزیه غیر مخرب بوسیله اشعه X  می باشد. مزیت استفاده از آنالیز XRF نسبت به روش های شیمیایی سرعت بالا و هزینه پایین و دقت قابل قبول است. به علت سرعت زیاد و عدم مصرف مواد شیمیایی روش ارزانی نسبت به بقیه روش های آنالیزی بوده و محیط زیست را نیز آلوده نمی سازد.